发布时间 : 星期一 文章无机材料测试技术思考与练习题答案更新完毕开始阅读d1f906a6b4daa58da1114a66
33、衍射仪扫描方式、衍射曲线上2θ位置及I的测量方法。 答：扫描方式：连续扫描和步进扫描。
2θ位置测量方法：巅峰法、焦点法、弦中点法、中心线峰法、重心法。 I测量方法：峰高强度、积分强度。
34、简要比较衍射仪法与德拜照相法的特点。
答：与德拜照相法相比，衍射仪法所具有的特点：简便快速、灵敏度高、分辨能力强、直接获得强度I和d值、低角度区的2θ测量范围大、样品用量大、对仪器稳定的要求高。
35、晶胞参数的精确测定及具体方法有哪些? 答：图解外推法、最小二乘法、衍射线对法。
36、物相分析的一般步骤及定性鉴定中应注意的问题是什么?
答：物相分析的一般步骤：用一定得实验方法获得待测试样的衍射花样，计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I，参考对比已知的X射线粉末衍射卡片鉴定出试样的物相。
定性鉴定中应注意的问题：(1) d的数据比I/I1数据重要；(2) 低角度线的数据比高角度线的数据重要；(3) 应重视特征线；(4) 了解待测试样的来源、化学成分、物理性质以及用化学或物理方法对试样进行预处理，并借助于平衡相图都有助于正确快速地分析鉴定。
37、从一张简单立方点阵物质的德拜照片上，已求出四根高角度线条的θ角(系由CuKα线所产生)对应的衍射指数，试用“a-cos2θ”的图解外推法求出四位有效数字的点阵参数： HKL 532 620 443 541 θ(°) 72.68 77.93 81.11 87.44 λh2+k2+l20.229152+32+22解：aobs1===0.7397 cos2θ1=0.08863 2sinθ2sin72.68?λh2+k2+l20.229162+22+02aobs2===0.7408 cos2θ2=0.04372 2sinθ2sin77.93?λh2+k2+l20.229142+42+32aobs3===0.7424 cos2θ3=0.02388 2sinθ2sin81.11?λh2+k2+l20.229152+42+12aobs4===0.7431 cos2θ1=0.001995 2sinθ2sin87.44?ac=0.7437 38、根据上题所给数据用柯亨法计算四位有效数字的点阵参数。 解
2：
2?5+3+2?sin72.68?+?6+2+0?sin77.93?+?4+4+3?sin81.11?+?5+4+1?sin87.44?=A?5+3+2?+?6+2+0?+?4+4+3?+?5+4+1?????????5+3+2?10sin2?72.68?+?6+2+0?10sin2?77.93?+?4+4+3?10sin2?81.11???+B??+?5+4+1?10sin2?87.44????22222222210sin22?72.68?sin72.68?+10sin2?77.93?sin77.93?+10sin2?81.11?sin81.11???52+3+2?10sin2?72.68?+?6+2+0?10sin2?77.93???+10sin22?87.44?sin287.44?=A?22222222?+?4+4+3?10sin2?81.11?+?5+4+1?10sin2?87.44????22222222?+B?10sin2?72.68?+10sin2?77.93?+10sin2?81.11?+10sin2?87.44?????????????2代入数据
154.82008104=A×6489+B×231.25556236 5.533720696=A×231.25556236+B×14.1125591 则A=0.02376034
λ20.22912λ2由A=得ac===0.7431 4A4?0.023760344ac239、某陶瓷坯料经衍射定性分析为高岭石、石英和长石原料组成，称取2.588g样品做衍射实验，其中它们的最强线各为1864、923、620CPS，已知参比强度各为3.4、2.7、4.2，定量各原料的含量。
40、试比较光学显微镜成像和透射电子显微镜成像的异同。
答：光学显微镜和透射电镜显微镜成像的基本光学原理相似，区别在于使用的照明源和聚焦成像的方法不同，光学显微镜是可见光照明，玻璃透镜聚焦成像，透射电子显微镜用电子束照明，用一定形状的磁场聚焦成像。 41、电子的波长计算及电子光学折射定律的表述。
答：λ=12.25V(1+0.9788?10V)-6 2eV1sin?vt1/v1v2m=V2=λ1 ===sin?vt2/v2v1V1λ22eV2m42、试计算真空中电子束在200KV加速电压时，电子的质量、速度和波长。 解：m=m0?V?1-???C?2=9.11?10-31?200?103?1-?8??3?10?2=9.110002?10-31 2eV2?1.6?10-19?200?1038 v===7.025?10-31m9.110002?10λ=12.25V(1+0.9788?10V)-6?12.25200?10(1+0.9788?10?200?10)3-63?0.025 43、何谓静电透镜和磁透镜?
答：静电透镜：把能使电子波折射聚焦的具有旋转对称等电位曲面簇的电极装置。 磁透镜：在电子光学系统中用于使电子波聚焦成像的磁场是一种非均匀磁场，把能使电子波聚焦的具有旋转对称非均匀的磁极装置。 44、叙述电磁透镜的特点、像差，产生像差的原因。
答：电磁透镜的特点：能使电子偏转会聚成像，但不能加速电子；总是会聚透镜；焦距f、放大倍数M连续可调。
像差包括几何像差（球差、像散、畸变）和色差：
球差是由电磁透镜中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的；像散是由透镜磁场非旋转对称引起的；色差是由于成像电子波长（或能量）变化引起电磁透镜焦距变化而产生的一种像差。
45、影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么?如何提高电磁透镜的分辨率?
答：影响光学显微镜分辨率的关键因素是入射光波长和数值孔径；
影响电磁透镜分辨率的关键因素是透镜的像差和衍射效应所产生的散焦斑尺寸的大小。
提高电磁透镜的分辨率：确定电磁透镜的最佳孔径半角，使得衍射效应散焦斑与球差散焦斑尺寸相等，表明两者对透镜分辨率影响效果一致。
46、试计算加速电压为100KV时的电子束波长，当球差系数Cs=0.88mm、孔径半角α=10-2弧度时的分辨率。 解：λ=12.25V(1+0.9788?10V)1434-6?12.25100?10(1+0.9788?10?100?10)1-343-63?0.037?
?r0=0.49Csλ=0.49??0.88?10???0.037?10?3-104=2.2514?
47、电磁透镜的景深和焦深主要受哪些因素影响?说明电磁透镜景深大、焦深长的原因。
答：景深受分辨率和孔径半角影响；焦深受分辨率、孔径半角、透镜放大倍数影响。电磁透镜景深大、焦深长的原因是因为其分辨率高、孔径半角小。 48、何谓景深与焦深?当△r0=10 ?、α=10-2弧度、M=3000×时，请计算Df与DL值。
答：景深是透镜物平面允许的轴向偏差；焦深是透镜像平面允许的轴向偏差。
Df=2?r02?r02?10?=-2=2000? tan??102?r0M2?r0M2?r0M22?10?30002DL=?===1.8m -2tan???1049、何谓衬度?透射电镜有几种衬度像?其原理是什么?
答：衬度是指试样不同部位由于对入射电子作用不同，在显示装置上显示的强度差异。
透射电镜有三种衬度像：散射衬度像、衍射衬度像、相位衬度像。
散射衬度像是由于样品的特征通过对电子的散射能量的不同变成了有明暗差别的电子图像；衍射衬度是来源于晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异；相位衬度是利用电子束透过样品的不同部分后其透射波发生相位差，将这相位差转换为振幅差，实现图像衬度。
50、分别叙述各种不同样品(复型样品、粉末样品、萃取复型样品、经投影的二级复型样品、 薄膜样品)散射衬度像的形成原理。
答：在未经投影的塑料一级或碳一级复型样品中，A、B处只是t不同，A>B，则A处t大于B处t，则A处对电子的散射能力就大，通过光阑参与成像的电子