发布时间 : 星期日 文章FPY 直通率介更新完毕开始阅读c36d05f2770bf78a65295457
＝98％
全制程FTY＝A制程FTY×B制程FTY×C制程FTY ＝0.95×0.97×0.98 ＝0.903 ＝90.3％
如此可知，全制程FTY較（圖1）略高，因此以直通率（Rolled Yield ）定義較準確；其定義爲輸入件數比上全制程中沒有被修理過的件數。 直通率＝全制程中沒有被修理的件數／輸入件數 ＝900／1000 ＝90％
全制程之直通率（Rolled Throughout Yield）:定義爲全制程的投入産品件數與通過全制程無缺點産品件數之比率，不過在制程上要準確計算比較困難，一般以各制程的良率相乘。
l 計數值計點的品質
一般資訊電子産品只要有一個缺點就應視爲不良品，但是一個不良品可能有一個以上的缺點，因此以平均每件幾個缺點較能完全表示品質；以dpu （Defects Per Unit）爲單位。如（圖3）的流程圖。
輸入1000件 輸出1000件 INPUT 1000件 1000件 1000件
不良品 50件 30件 20件 缺點數 80點 45點 25點
（圖3）
A制程的dpu＝缺點數／檢查件數 ＝80點 ／ 1000件 ＝0.08dpu
B制程的dpu＝缺點數／檢查件數 ＝45點 ／ 1000件 ＝0.045dpu
C制程的dpu＝缺點數／檢查件數 ＝25點 ／ 1000件 ＝0.025dpu
全制程的dpu＝缺點總數／檢查件數 ＝(80+45+25)點／4000件 ＝0.0375dpu
一般不同産品的每件檢點數不同，檢點數愈多，dpu就可能愈大，以dpu的大小來比較産品品質的好壞似乎不太合理，因此用總檢點數與總缺點數之比來比較品質會客觀一點；以dppm（Defect Parts Per Million）爲單位，如（圖4）的流程圖。 輸入1000件 輸出1000件 檢點數 50點 50點 400點 INPUT 1000件 1000件 1000件
不良品 50件 30件 20件
缺點數 80點 45點 25點
（圖4）
A制程每百萬檢點平均缺點數 ＝（總缺點數／總檢點數）× 106 ＝(80 ／(1000×50）)×106 ＝1600 dppm
B制程每百萬檢點平均缺點數 ＝（總缺點數／總檢點數）× 106 ＝(45 ／(1000×50）)× 106 ＝900 dppm
C制程每百萬檢點平均缺點數 ＝（總缺點數／總檢點數）× 106 ＝(25 ／(1000×400）)× 106 ＝62.5 dppm
全制程每百萬檢點平均缺點數 ＝（總缺點數/總檢點數）× 106
＝(（80+45+25）／(1000×50+1000×50+1000×400）)×106 ＝300 dppm
dpu是代表每件産品平均有幾個缺點，而dppm是每檢查一百萬的檢點平均有幾個缺點。一個檢點代表一産品或制程可能會出現缺點的機會，它可能是一個零件、特性、作業等等，有些地方以ppm/part(注2)，dpmo(Defects Per Million Opportunities)(注3)爲品質指標，其實與dppm是同樣的意義。時下許多資訊電子裝配廠，其制程上記錄是以dppm 爲單位，不同檢點數的産品或制程就可依下式換算爲dpu。
dpu＝産品或制程檢點數×dppm×106
良率是最容易瞭解的品質指標；投入制程的産品，經製造過程後，就可以實際交給下工程或可以直接出貨的比率，良率愈高代表效率愈高，報廢愈少，修理愈少，對品質、成本、交期都有直接的關係，這是人人皆知的道理，因此，良率應爲最終的品質指標。假若可以事先估算出産品或制程的dpu，就可以預估産品在該制程的良率，以蔔氏分配的性質可計算其良率。假設X爲某件産品經某制程後之觀測缺點數，當X＝0時，即表示該件産品沒有缺點，因此，P[X=0]即表示該産品無缺點的機率；就是良率。以下式表示
P[X=0]＝ e-dpu
dpu與制程良率的關係如(表1)。 dpu 5.0 4.0 3.0 2.0 1.0 0.5 0.05 0.01 Yield% 0.67% 1.83% 4.98% 13.5% 36.8% 60.7% 95.1% 99.0% (表1)
以上之品質指標皆以計數值之計件或計點來解釋其與良率之關係，而計量值之品質指標Cp或Cpk也可以定義一産品或制程特性的良率；此處可以計數值之一檢點爲同樣的意義，一檢點可以爲一産品或制程特性。 l 計量值的品質指標
制程能力指標Cp或Cpk之值在一産品或制程特性分配爲常態且在管制狀態下時，經由常態分配之機率計算，可以換算爲該産品或制程特性的良率或不良率，同時亦可以幾個Sigma來對照。茲以産品或制程特性中心沒偏移目標值，中心偏移目標值1.5σ及中心偏移目標值T/8分別說明之，品管先進陳文化先生認爲對於Sigma水準較小時，偏移的幅度應相對的小，才較合理，因此提出偏移目標值T/8的考量。 先定義以下幾個符號
l X：個別産品或制程特性值 l USL：規格上限 l LSL：規格下限
l m：目標值或規格中心，一般爲(USL＋LSL)/2