发布时间 : 2024/6/11 18:01:27 星期二 文章第四轮灯具测试报告分析更新完毕开始阅读23d9155ebe23482fb4da4c03
(4)Bulb
第四轮器件测试报告分析
一.测试说明
第四轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心(中电科第十三所)测试提供,芯片测试在350mA下进行,测试方法标准为SJ/T 2355-2005半导体发光器件测试方法。
二. 数据分析
图1. 光效随显色指数(CRI)变化情况
图2. 光效随色温(CCT)变化情况